Расчет обоснования основных конструктивно-технологических решений при разработке аппаратуры на микросхемах - Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника курсовая работа

Расчет обоснования основных конструктивно-технологических решений при разработке аппаратуры на микросхемах - Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника курсовая работа




































Главная

Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника
Расчет обоснования основных конструктивно-технологических решений при разработке аппаратуры на микросхемах

Расчет интегрального показателя качества аппаратуры. Структурный анализ аппаратуры на уровне микросхем. Распределение блоков и микросхем по типам. Влияние условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры. Проведение профилактических осмотров.


посмотреть текст работы


скачать работу можно здесь


полная информация о работе


весь список подобных работ


Нужна помощь с учёбой? Наши эксперты готовы помочь!
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь с
политикой обработки персональных данных

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.


1. Порядок обоснования и выбора типовых конструктивно-технологических решений.
1.1 Исходные данные и основные соотношения.
1.2 Алгоритм расчета интегрального показателя качества аппаратуры.
2. Определение конструктивных параметров микросборок
3. Определение конструктивных параметров аппаратуры.
3.1 Расчленение аппаратуры на крупные функционально законченные части.
3.2 Конструктивные параметры аппаратуры.
4. Структурный анализ аппаратуры на уровне микросхем.
4.3 Распределение микросхем по типам.
5. Определение параметров надежности аппаратуры
5.1 Интенсивность отказов микросхем.
5.2 Интенсивность отказов аппаратуры
5.3 Учет влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
6. Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и ЗИПа.
6.1 Число профилактических осмотров.
6.3 Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса.
6.4 Количество субблоков и микросхем, необходимых для эксплуатации аппаратуры.
7. Определение затрат на разработку,производство и эксплуатацию аппаратуры.
7.1 Затраты на разработку и производство.
7.2 Затраты на разработку и производство субблоков.
7.3 Затраты на разработку и производство аппаратуры
7.4 Затраты на эксплуатацию аппаратуры.
8. Расчет интегрального показателя качества аппаратуры и выбор ее оптимального конструктивно-технологического решения.
Исходными данными для расчета обоснования основных конструктивно-технологических решений при разработке аппаратуры на микросхемах являются:
б) исходное количество эквивалентных вентилей, необходимое для построения аппаратуры: Nа.u = 33 000
в) серии микросхем широкого применения и их уровень интеграции J на момент разработки аппаратуры: J1 = 128; J2 = 512;
д) разновидности базовых технологий изготовления микросборок: тонкопленочная;
ж) варианты конструкции аппаратуры: а) Книжная; б) Кассетная; в) Разъемная
з) характеристики окружающей среды;
и) число лет , в течение которых должна эксплуатироваться аппаратура до морального износа второго рода - = 4 лет
к) коэффициент эксплуатации аппаратуры щ = 0,9
л) вероятность безотказной работы аппаратуры W в конце срока эксплуатации W = 0,91
м) необходимость дублирования аппаратуры: да
н) серийность аппаратуры З = 20 шт.;
Целью расчета обоснования конструктивно-технологических решений является определяется определение интегрального показателя качества (технико-экономической эффективности) аппаратуры и его максимизация.
Блок-схема алгоритма расчета интегрального показателя качества аппаратуры:
Рассчитывается в курсовой работе по дисциплине «Физические основы микроэлектроники»
Количество эквивалентных вентилей , определяющее показатель технической сложности аппаратуры на микросхемах с уровнем интеграции J, рассчитывается по формуле
Здесь и в дальнейшем по тексту Е указывает на операцию выбора целочисленного значения
Блоки аппаратуры по структурным характеристикам делятся на две части:
часть, реализуемую однородными структурами
часть, реализуемую неоднородными структурами.
При расчленении части блока однородной структуры на субблоки равной сложности все субблоки будут повторяющимися. Однородные структуры содержат 2-3 разновидности повторяющихся субблоков. При расчленении части блока неоднородной структуры на субблоки равной сложности наряду с неповторяющимися субблоками могут быть и повторяющиеся. Неоднородной структурой реализуется, например, устройство управления цифровой вычислительной машины, в то время как остальные её устройства могут быть реализованы однородными структурами.
Количество эквивалентных вентилей, определяющее показатель технической сложности аппаратуры, делится на части, соответствующие крупным функционально законченным устройствам. Например, показатель технической сложности устройства ввода-вывода составляет от 20 до 30 % от , показатель технической сложности арифметического устройства - от 40 до 60 %, а показатель технической сложности устройства управления - от 10 до 40 %.
N а.у.в. = 10023; N а.у.a = 20045; N а.у.y. = 3340
N а.у.в. = 10137 ; N а.у.a = 20275; N а.у.y. = 3379
При кассетном варианте конструкции аппаратуры каждое устройство реализуется в виде отдельной кассеты.
Ориентировочный объем занимаемый аппаратурой, определяется по формуле
По величине ориентировочного объема, в соответствии с ГОСТ 17045-71 для бортовой аппаратуры, выбирается ближайший тип корпуса блока, объем V которого превышает величину Vґ , и определяются его габаритные размеры в миллиметрах.
а) книжная конструкция, корпуса 401.14-1(101СТ14-1), габаритные размеры:
б) конструкция кассетная, корпуса 401.14-1(101СТ14-1), габаритные размеры:
в) конструкция разъемная, корпуса 401.14-1(101СТ14-1), габаритные размеры:
а) конструкция книжная , корпуса 401.14-1(101СТ14-1), габаритные размеры:
б) конструкция кассетная, корпуса 401.14-1(101СТ14-1), габаритные размеры:
в) конструкция разъемная, корпуса 401.14-1(101СТ14-1), габаритные размеры:
Данные корпуса блоков выбраны по [2] , как самые близкие по объему.
Шкафа Ш6-2-1 выбран по [4] в соответствии с условиями применения и особенностями конструкций. ( Его конструкция обеспечивает установку блочных каркасов, в которых устанавливаются блоки, и осуществляется электрическое соединение их между собой.)
Исходя из габаритных размеров выбранного корпуса блока в зависимости от конструктивной реализации аппаратуры и в соответствии с требованиями ОСТ ГО.010.009 выбираются размеры печатных плат и . Параметры печатных плат, необходимые для расчета, приведены в приложении 2.
А) конструкция книжная : := 170 мм,= 130 мм
б) конструкция кассетная:= 170 мм,= 130 мм
в) конструкция разъемная:=170 мм, = 130 мм
а) конструкция книжная: := 170 мм,= 75 мм
б) конструкция кассетная:= 170 мм,= 75 мм
в) конструкция разъемная:=170 мм, = 75 мм
Размеры выбраны исходя из размеров субблоков указанных в [2] .
Ориентировочное среднее количество выводов субблока определяется по формуле
Исходя из ориентировочного среднего количества выводов субблока выбирается тип разъема, содержащий выводов (?)
3.2.6. По выбранным размерам печатных плат и размерам вилки выбранного разъема в случае аппаратуры варианта разъемной конструкции (либо по размерам скобы с крышкой в случае аппаратуры вариантов книжной и кассетной конструкции)выбираются в соответствии с ОСТ4 ГО.010.009 размеры монтажной зоны печатной платы и
Расчет ведется только по размеру печатных плат, без учета конструктивных особенностей конструкций, с разрешения руководителя.
а) конструкция книжная := 170 мм,= 130 мм
б) конструкция кассетная:= 170 мм,= 130 мм
в) конструкция разъемная:=170 мм, = 130 мм
а) конструкция книжная: := 170 мм,= 75 мм
б) конструкция кассетная:= 170 мм,= 75 мм
в) конструкция разъемная:=170 мм, = 75 мм
[y1,y2,x1,x2 взяты из [2] по таблицам 4 и 3, при этом данные x1 и х2 предполагают, что толщина платы находится в интервале (1,0-2,0]мм. ]
Число горизонтальных (вертикальных) рядов микросхем () определяется по формуле
где и - шаги установки микросхем по вертикали и горизонтали для корпуса [ lx1 и ly1 выбирается в приложение 5]
Для корпуса 401.14-1 минимальные шаги установки =17,5 =15
При этом для односторонней установки максимально возможное количество микросхем на плате определяется по формуле
Количество микросхем , устанавливаемых в субблоке, следует выбирать в пределах от 0,6 до .
Количество субблоков устройства ввода-вывода
где - количество микросхем в субблоке устройства ввода-вывода.
Количество субблоков арифметического устройства
где - количество микросхем в субблоке арифметического устройства.
Количество субблоков устройства управления определяется по формуле
где - количество микросхем в субблоке устройства управления.
Количество субблоков в аппаратуре определяется по формуле
То аппаратура конструктивно реализуется на двух субблоках, один из которых занимает арифметическое устройство, а другой - устройство ввода-вывода и устройство управления.
2*128*54 =13824 > 7 => условие выполняется
2*128*54 =13824 > 7 => условие выполняется
2*128*54 =13824 > 7 => условие выполняется
2*512*27=27648 > 4 => условие выполняется
2*512*27=27648 > 4 => условие выполняется
2*512*27=27648 > 4 => условие выполняется
Следовательно, аппаратура конструктивно реализуется на двух субблоках, один из которых занимает арифметическое устройство, а другой - устройство ввода-вывода и устройство управления.
Уточненное количество внешних выводов субблока определяется по формуле
Так как уточненное количество внешних выводов субблока превышает количество выводов вилки разъема субблока , то Увеличим количество субблоков в 2 раза,в соответствии с рекомендацией.
Габаритные размеры субблоков ( - длина и - ширина) в миллиметрах в соответствии с рекомендацией взяты из [2]
1) Для J =128: [размер субблока 13x140x240 мм.]
Исходя из размеров платы (= 170 мм,= 130 мм ) и размеров блока (L= 132 мм, В = 490 мм, Н = 380 мм ) ,в соответствии с ОСТ 4ГО.010.009 выбираем следующими:
2) Для J =512: [размер субблока 18x176x80 мм.]
Исходя из размеров платы (= 170 мм,= 75 мм) и размеров блока (L= 460 мм, В = 170 мм, Н = 264мм ), в соответствии с ОСТ 4ГО.010.009 выбираем следующими:
При односторонней установке микросхем, если их высота превышает высоту разъема или высоту скобы с крышкой, высота субблока определяется по формуле
где - высота выступов со стороны печатной платы, свободной от микросхем.
Однако, в соответствии с рекомендацией, возьмем Lz2 из таблицы 13 в [2], исходя из выбранного корпуса.
1) Для J =128: [размер субблока 13x140x240 мм.]
Исходя из предыдящего пункта и размеров блока,в соответствии с ОСТ 4ГО.010.009 выбираем следующимие Lz2
1) Для J =512: [размер субблока 18x176x80 мм.]
Исходя из предыдящего пункта и размеров блока,в соответствии с ОСТ 4ГО.010.009 выбираем следующимие Lz2
Оптимальность выбранного корпуса не проверяется, так как он взят из [2]
Мощность в ваттах, потребляемая блоком от источника питания, определяется по формуле
- примем равной за потребляемую мощность микросхемы КР1533 =1,2мВт [7]
Количество типов микросхем широкого применения и микросборок определяется по формуле
Количество типов микросхем широкого применения определяется по формуле
где - Коэффициент пропорциональности типов схем широкого применения, учитывающий класс аппаратуры .
Для аппаратуры локационной, навигационной и контрольно-измерительной аппаратуры от 0,5 до 0,6, (принимаем = 0,5)
Количество типов микросборок определяется по формуле
Ориентировочное количество микросхем широкого применения в разрабатываемой аппаратуре определяется по формуле
где - коэффициент пропорциональности схем широкого применения, учитывающий класс аппаратуры.
Для аппаратуры локационной, навигационной и контрольно-измерительной аппаратуры от 0,4 до 0,6 (принимаем = 0,6)
Ориентировочное количество микросборок в разрабатываемой аппаратуре определяется по формуле
Количество неповторяющихся субблоков части блока неоднородной структуры определяется по формуле
Проверим субблоки на повторяемость - Если , то все субблоки являются неповторяющимися.
Во всех случаях субблоки неповторяющиеся.
Число типов субблоков аппаратуры определяется по формуле
Так как все субблоки неповторяющиеся:
Ориентировочное количество микросхем широкого применения в субблоке j-го типа определяется по формуле
где - показатель повторяемости j-го субблока (для неповторяющихся субблоков =1).
Ориентировочное количество микросборок в субблоке j-го типа определяется по формуле
Nc.j - количество микросхем в субблоке
Поправочный коэффициент для уточнения количества микросборок в субблоке j-го типа определяется по формуле
Уточненное количество микросборок в субблоке j-го типа определяется по формуле
Уточненное количество микросхем широкого применения в субблоке j-го типа определяется по формуле
Уточненное количество микросхем широкого применения в блоке определяется по формуле
Уточненное количество микросборок в блоке определяется по формуле
Ориентировочное количество микросборок i-го типа в субблоке j-го типа определяется по формуле
1) Для J =128: ( Nтс= 45; Nc.c.j=30)
Количество микросборок 1-го - 28-го типов равным 2.(по 2 на каждый тип)
29-го -45-го типа равным 1. (по 1 на каждый тип)
2) Для J =512: (Nтс= 21; Nc.c.j=11)
Количество микросборок 1-го - 18-го типов равным 2.(по 2 на каждый тип)
19-го -21-го типа равным 1. (по 1 на каждый тип)
Уточненное количество микросборок i-го типа в субблоке j-го типа , за исключением микросхем -го типа, определяется по формуле
Уточненное количество микросборок определяется по формуле
Оставляем неизменными, в соответствии с рекомендацией.
Количество микросборок всех типов во всех субблоках записывается в табличной форме .
1) J=128 для все вариантов конструкции
2) J=512 для всех вариантов конструкции
Здесь и ниже, в качестве НЕ расчетных(справочных) л будем принимать значение интенсивности отказа резистора =0,04*10-6 ,ч-1 [5]
5.2 Интенсивность отказов аппаратуры
Интенсивность отказов субблоков j-го типа определяется по формуле
где - интенсивность отказов схем широкого применения;
- интенсивность отказов микросборок;
- интенсивность отказов паяного контакта.
Количество выводов микросборки определяется по формуле
К1-коэффициент разветвленности = 4 [в соответствии с рекомендацией]
Количество внешних выводов разъема кассеты в устройстве управления определяется по формуле
Количества внешних выводов разъема кассеты в устройстве ввода-вывода определяется по формуле
Количество внешних выводов разъема кассеты в арифметическом устройстве определяется по формуле
Интенсивность отказов кассеты устройства управления определяется по формуле
Интенсивность отказов кассеты устройства ввода-вывода определяется по формуле
аппаратура микросхема отказ профилактический
Интенсивность отказов кассеты арифметического устройства определяется по формуле
Количество внешних выводов аппаратуры определяется по формуле
Интенсивность отказа аппаратуры варианта разъемной конструкции определяется по формуле
где - интенсивность отказов врубного контакта разъема.
Интенсивность отказа аппаратуры варианта книжной конструкции определяется по формуле
Интенсивность отказа аппаратуры варианта кассетной конструкции определяется по формуле
Интенсивность отказов аппаратуры с учетом ее работы при реальной температуре, выбранной внутри интервала допустимых температур, определяется по формуле
где - поправочный коэффициент, учитывающий режимы эксплуатации для различных классов аппаратуры (задается разработчику)
Примем коэффициент эксплуатации =0.9 в соответствии с заданием.
Интенсивность отказов аппаратуры с учетом влияния условий окружающей среды определяется по формуле
[Коэффициенты выбираются из приложения 3 в соответствии с заданием]
Среднее время безотказной работы аппаратуры в часах определяется по формуле
Если аппаратура эксплуатируется в течении части суток и при этом осуществляются профилактические осмотры в промежутках между рабочими циклами, то величина среднего времени между отказами аппаратуры определяется путем решения уравнения
где - время профилактического осмотра.
Время назначенного ресурса аппаратуры определяется по формуле
Время наработки между двумя профилактическими осмотрами определяется по формуле
Число профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса аппаратуры определяется по формуле
Типовыми элементами замены аппаратуры являются: для варианта разъемной конструкции - субблок, для варианта кассетной конструкции - кассета, для варианта книжной конструкции - блок.
Количество типовых элементов замены в комплекте ЗИПа субблоков j-го типа , , для аппаратуры варианта кассетной конструкции и количество блоков для аппаратуры варианта книжной конструкции определяется по методике, изложенной в ОСТ4 ГО.012.021.
Количество типовых элементов замены , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Распределение по типам субблоков , заменяемых при проведении профилактических осмотров, для варианта разъемной конструкции аппаратуры определяется по формуле
Количество субблоков j-го типа , заменяемых в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Примем значение числа допустимых замен микросхем в субблоке = 3, в соответствии с рекомендацией.
Количество кассет устройства управления , заменяемых при проведении профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Количество кассет устройства управления , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле.
Количество субблоков j-го типа в устройстве управления аппаратуры варианта кассетной конструкции , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Количество кассет устройства ввода-вывода заменяемых при проведении профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Количество кассет устройства ввода-вывода , заменяемых в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Количество субблоков в устройстве ввода-вывода аппаратуры варианта кассетной конструкции , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Количество кассет арифметического устройства , заменяемых при проведении профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Количество кассет арифметического устройства , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Количество субблоков арифметического устройства аппаратуры варианта кассетной конструкции , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Количество субблоков аппаратуры варианта книжной конструкции, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Примем ,за не имением расчетных формул на .
Количество субблоков j-го типа устройства управления аппаратуры варианта книжной конструкции , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Количество субблоков устройства ввода-вывода аппаратуры варианта книжной конструкции , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
Количество субблоков арифметического устройства аппаратуры варианта книжной конструкции , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
При дублировании аппаратуры варианта разъемной конструкции количество субблоков определяется по формуле
При дублировании аппаратуры варианта кассетной конструкции количество субблоков определяется по формуле
При дублировании аппаратуры варианта книжной конструкции количество субблоков определяется по формуле
Общее количество субблоков , j-го типа, необходимое для эксплуатации аппаратуры в течение времени ее технической долговечности, определяется по формуле
Количество микросборок i-го типа , необходимое для эксплуатации аппаратуры в течение времени ее технической долговечности, определяется по формуле
Затраты на разработку и производство схем широкого применения не учитываются. Эти схемы являются покупными изделиями и характеризуются оптовой ценой. Оптовые цены разработанных микросхем широкого применения выбираются по прейскуранту. Оптовые цены разрабатываемых микросхем широкого применения в единицах стоимости прогнозируются по формуле
где - удельная стоимость производства одного вентиля в схеме уровня интеграции J.
В соответствии с приложением 4, примем значение для года N+6.
Затраты на разработку одновентильной микросхемы в единицах стоимости определяется по формуле
где - стоимость одновентильной схемы. выбираем из приложения 4,год N+3.
Затраты на разработку i-го типа микросхемы уровня интеграции J определяется по формуле
Экономически целесообразное количество микросхем в партии определяется по формуле
где - экономически целесообразное количество одновентильных микросхем в партии, в соответствии с рекомендацией принимаем, для тонкопленочных микросхем, = 10000
Прогнозируемая цена микросборки i-го типа определяется по формуле
где - постоянный коэффициент снижения трудоемкости (для расчета рекомендуется принять этот коэффициент равным 0,8);
- коэффициент, учитывающий дополнительные вложения в производство (для расчета рекомендуется принять этот коэффициент равным 1,05 при тонкопленочной технологии )
з - показатель серийности аппаратуры.
Для определения затрат на разработку субблока j-го типа необходимо знать конструктивно коэффициент пропорциональности площади посадочного места , вычисляемый по формуле
где - шаги установки корпуса 401.14-1;
- шаги установки корпуса, используемого в рассматриваемом субблоке.
=1, так как используется корпус 401.14-1 и минимальные шаги установки микросхем, установленные приложение 5
Затраты на разработку субблока j-го типа определяется по формуле
где - затраты на разработку среднего субблока (для расчета рекомендуется принять =100000 единиц стоимости);
- уровень интеграции схем среднего субблока (для расчета рекомендуется принять = 4 эквивалентным вентилям);
- количество микросхем среднего субблока (для расчета рекомендуется принять = 40).
Коэффициент пропорциональности , учитывающий затраты на изготовление субблока, определяется по формуле
Затраты на производство j-го типа определяется по формуле
Затраты на производство количества субблоков j-го типа, необходимых для эксплуатации аппаратуры , определяется по формуле
Затраты на разработку типа блока аппаратуры определяется по формуле
где - коэффициент пропорциональности затрат на разработку блока аппаратуры (для расчета рекомендуется принять = 0,125).
Общие затраты на разработку аппаратуры определяются по формуле
Удельные затраты на разработку одного комплекта аппаратуры определяется по формуле
Затраты на изготовление блока аппаратуры определяется по формуле
где - коэффициент пропорциональности, учитывающий затраты на изготовление блока (для расчета рекомендуется принять = 0,015).
Затраты на производство аппаратуры определяются по формуле
Масса субблока j-го типа в граммах рассчитывается по формуле
где - масса рамки и печатной платы (см. приложение 2);
- масса микросхемы (см. приложение 5);
- масса элементов конструкции субблока.
Для субблоков варианта кассетной и книжной конструкции величина состоит из величины массы скобы и массы крышки. Для субблока варианта разъемной конструкции величина определяется величиной массы вилки разъема.
Для всех компоновок и степеней интеграции примем массу микросхемы, согласно приложению 5 ,в связи с одинаковым корпусом блока.
Масса укомплектованного блока аппаратуры варианта разъемной конструкции определяется по формуле
где - масса розетки разъема субблока;
выбираем из приложения 6 для ближайшего подходящего по объему.
Масса кассеты устройства управления определяется по формуле
где - масса вилки разъема кассеты управления.
Масса кассеты устройства ввода-вывода определяется по формуле
где - масса вилки разъема кассеты ввода-вывода.
Масса кассеты арифметического устройства определяется по формуле
где - масса вилки разъема кассеты арифметического устройства.
Масса укомплектованного блока аппаратуры варианта кассетной конструкции определяется по формуле
Масса укомплектованного блока аппаратуры варианта книжной конструкции определяется по формуле
Затраты на эксплуатацию массы аппаратуры определяется по формуле
где - удельные затраты на эксплуатацию одного грамма массы аппаратуры (задаются разработчику).
Затраты на эксплуатацию объема аппаратуры определяются по формуле
где - удельные затраты на эксплуатацию одного дециметра кубического объема аппаратуры (задаются разработчику).
Затраты на эксплуатацию источников питания аппаратуры определяются по формуле
где - удельные затраты на эксплуатацию одного ватта мощности источника питания аппаратуры (задаются разработчику).
Затраты на комплект запасных деталей ЗИП определяется по формуле.
По формуле (102) определяется общие затраты на эксплуатацию аппаратуры.
где - затраты на эксплуатацию объема аппаратуры, ед.ст.;
- затраты на эксплуатацию массы аппаратуры, ед.ст.;
- затраты на эксплуатацию источников питания аппаратуры, ед.ст.;
- затраты на комплект запасных элементов, ед.ст.
8.1 По формуле (103) определяются затраты на обеспечение функционирования аппаратуры
Затраты на обеспечение функционирования аппаратуры определяется по формуле
- нормативный коэффициент эффективности капитальных вложений, равный 0,12; - текущие затраты, ед.ст.
Капитальные вложения определяются по формуле:
где - затраты на разработку аппаратуры, ед.ст.; - затраты на производство аппаратуры, прогнозируемые в виде оптовых цен, ед.ст.
Затраты на обеспечение функционирования аппаратуры определяется по формуле
8.2 По формуле (1) определяется интегральный показатель качества аппаратуры
Интегральный показатель качества аппаратуры в условных единицах, характеризующихся произведением часов на эквивалентные вентили, отнесенные к единицам стоимости, определяется по формуле
8.3 Задавая различные значения входных данных в допустимых пределах (например, различный уровень интеграции), оценивают интегральный показатель качества различных вариантов аппаратуры
Наилучший показатель качества имеет книжная конструкция(1.а) ) ,Пи=6,4487.
С меньшим показателем качества (Пи=5,6763) далее идет разъёмная конструкция(1.в) ).
Наихудший вариант представляет собой кассетная конструкция(1.б) ) с Пи=3,9518.
Наилучшим показателем качества обладает книжная конструкция (2.а) ) с Пи=5,2873.
С меньшим показателем качества Пи=4,104 второй идет кассетная конструкция (2.б) ).
Наихудшим интегральным показателем качества Пи=3,8834 обладает разъёмная конструкция (2.в) ).
8.4 По полученным значениям интегральных показателей качества строится функция цели, максимум которой указывает на оптимальный вариант построения аппаратуры микросхем
Максимум верхней кривой семейства кривых функций цели соответствует оптимальному уровню интеграции применяемых в разрабатываемой аппаратуре микросхем.
В настоящей курсовой были рассмотрены уровни интеграции J=128 и J=512, а также три варианта конструкций: книжная, кассетная и разъемная. Расчеты, проведенные в курсовой работе, показывают, что наиболее экономически обоснованным для нашей аппаратуры является выбор варианта книжной конструкции со степенью интеграции J=128 ,поскольку при этом достигается наибольшее значение показателя качества.
Как альтернативу, можно предложить разъемную конструкцию аппаратуры со степенью интеграции 128.
Шасси из субблоков с разъемами ГРПМ9-У
1 - субблок; 2 -шасси; 3 - панель передняя;4- направляющая; 5 - штыро-ловитель
1 - плата печатная; 2 - микросхема; 3 - планка; 4 - вилка разъема ГРПМ9-У
Блок разъемной конструкции из субблоков с разъемами ГРППЗ
1 - субблок с разъемами ГРППЗ; 2 - субблок с разъемом ГРППЗ; 3 - каркас; 4 - панель передняя; 5 - панель задняя; в - плата коммутационная; 7 - розетка разъема ГРППЗ; 8 - направляющая; 9 - замок
1 - плата печатная; 2 - микросхема; 3 - ЭРЭ навесной; 4 - колодка для контроля; 5- вилка разъема ГРППЗ; 6 - винт невыпадающий
1- шкаф Ш6-2-1; 2- каркас блочный; 3- дверь; 4- 10 - угольник; 11,24,25-плата; 12- перегородка; 13-18 - прокладка; 19-заслонка; 20- дно; 21- воздуховод; 22- кожух; 23- фильтр .
Коэффициент км, учитывающий влияние механических воздействий.
Коэффициент квл, учитывающий влияние влажности.
Коэффициент кД, учитывающий влияние пониженного давления.
Ориентировочная стоимость производство одного эквивалентного вентиля гибридной тонкопленочной микросхемы
Примечание: Масса корпусов блоков определена расчетным способом
1. ОСТ4 ГО.010.036 «Методика обоснования и выбора конструктивно-технологических решений».
2. ОСТ 4 ГО.010.009. «Узлы и блоки радиоэлектронной аппаратуры на микросхемах. Конструирование.»
3. С.Ф. Прытков, В.М. Горбачева, и др. "Надежность электрорадиоизделий: Справочник.", ЦНИИИ МО РФ, 2002
4. ОСТ4 ГО.410.221 «Корпуса шкафов морской радиоэлектронной аппаратуры. Руководство по применению.»
5. Т.М. Борисенко, Т.Э. Гельфман и др. «Теоретические основы надежности РЭС», методические указания по выполнению курсовой работы - М.: МИРЭА, 2010г.
6. www.vecon.ru (масса вилок и розеток разъемов)
7. http://vicgain.sdot.ru/spmikro/smikr1.htm (мощность микросхемы КР1533)
Полупроводниковые, пленочные и гибридные интегральные микросхемы. Микросхема как современный функциональный узел радиоэлектронной аппаратуры. Серии микросхем для телевизионной аппаратуры, для усилительных трактов аппаратуры радиосвязи и радиовещания. реферат [1,5 M], добавлен 05.12.2012
Сущность и параметры надежности как одного из основных параметров радиоэлектронной аппаратуры. Характеристика работоспособности и отказов аппаратуры. Количественные характеристики надежности. Структурная надежность аппаратуры и методы ее повышения. реферат [1,5 M], добавлен 17.02.2011
Определение требуемых уровней критерия безотказности. Расчет показателей безотказности блоков комплекта аппаратуры. Оценка ремонтопригодности устройства. Расчет периодичности технического обслуживания. Определение номенклатуры и количества элементов ЗИП. курсовая работа [235,8 K], добавлен 07.02.2013
Анализ и моделирование процессов формирования конструктивно технологических характеристик монтажных соединений электронной аппаратуры, методов и средств технологического мониторинга свойств МОС. Методы выявления и оценивания информационных признаков. дипломная работа [4,2 M], добавлен 06.06.2010
Применение железнодорожной автоматики. Показатели надежности аппаратуры контроля на железнодорожной станции. Расчет надежности усилителей, аппаратуры необслуживаемых и обслуживаемых усилительных пунктов, каналов передачи телеметрической информации. курсовая работа [759,6 K], добавлен 07.08.2013
Типовые средства автоматизации и контроля технологических процессов. Устройство и работа измерительных преобразов
Расчет обоснования основных конструктивно-технологических решений при разработке аппаратуры на микросхемах курсовая работа. Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника.
Реферат: Сучасний стан політичних процесів в Україні та їх особливості
Курсовая работа: Особенности конкуренции на розничном банковском рынке РФ. Скачать бесплатно и без регистрации
Курсовая работа по теме История социальной помощи глухонемым 19-20 веках
Отчет по практике по теме Производство биаксиальноориентированной пленки с термосвариваемым слоем или без термосвариваемого слоя
Дипломная работа по теме Девиантное поведение населения в 20-е годы
Курсовая Работа На Тему Сопротивление Кадровым Инновациям: Причины И Пути Преодоления
Реферат по теме Причины разнообразия и сходства экосистем
Реферат по теме Задачи по семейному праву условие-вопрос-решение (Контрольная)
Тазалық Денсаулық Кепілі Эссе
Курсовая работа по теме Речевая готовность детей к школе на занятиях по обучению грамоте
Диссертация Цель Преступления
Реферат На Тему Станок
Актуальность Мусульманки В Современном Мире Реферат
Реферат: Здоровя людини і працездатність мязів
Реферат: Загальна характеристика доведення і спростування
Курсовая работа по теме Разработка технологического процесса изготовления фрезы червячной
Смысл Движения Сочинение Радость Красота Здоровье
Курсовая работа по теме Маркетинговая деятельность торгово-производственного предприятия "Завод деревоизделий" г. ...
Роль Металлов В Жизни Человека Эссе
Курсовой Разницей Признается
Договор купли-продажи в системе гражданско-правовых договоров РФ - Государство и право дипломная работа
Органи суддівського самоврядування в Україні: система та повноваження - Государство и право статья
Суб'єкти підприємницької діяльності малого бізнесу: створення і порядок реєстрації - Государство и право контрольная работа


Report Page