Программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем 155 серии - Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника курсовая работа

Главная

Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника
Программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем 155 серии

Разработка программно-аппаратного комплекса (микропроцессорного контроллера) для тестирования интегральных микросхем. Функциональный контроль по принципу "годен" - "не годен". Параметры микроконтроллера КМ1816ВЕ51. Блок-схема алгоритма работы контроллера.


посмотреть текст работы


скачать работу можно здесь


полная информация о работе


весь список подобных работ


Нужна помощь с учёбой? Наши эксперты готовы помочь!
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь с
политикой обработки персональных данных

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Тольяттинский Государственный Университет
"ПРОГРАММНО-АППАРАТНЫЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ 155 СЕРИИ"
Объем резидентной памяти программ, Кбайт
Объем резидентной памяти данных, байт
Интегральная микросхема, для которой необходимо написать программу тестирования - К155ЛА1. Микросхема представляет собой два логических элемента 4И-НЕ. Таблица истинности элемента 4И-НЕ представлена в табл.2.2, условное графическое изображение показано на рис.2.2
Питание микроконтроллера осуществляется через вывод 40, а микросхемы К155ЛА1 через вывод 14. Общий вывод микроконтроллера вывод 20, а микросхемы К155ЛА1 вывод 7.
Схемное изображение микроконтроллера КМ1816ВЕ51
Схемное изображение интегральной микросхемы К155ЛА1
1,2,4,5,9,10,12,13 - входы X1-X8; 6 - выход Y1; 7 - общий; 8 - выход Y2; 14 - напряжение питания;
Работа тестера проходит следующим образом:
В начальный момент времени питание тестера отключено, соответственно на выходе контроллера какие-либо сигналы отсутствуют. В момент включения питания тестера, подается питание на контроллер, который переходит в состояние ожидания команды на тестирование. Выполнение данной команды осуществляется нажатием кнопки "тест" - SB2. Питание тестируемой микросхемы в это время отключено. Далее осуществляется выбор тестируемой ИМС. Номер тестируемой микросхемы задается переключателями S1-S8 в двоичном коде. После того как требуемый тип микросхемы выбран, а тестируемая микросхема установлена на контактной площадке ХS1.1 - XS1.2, можно нажимать кнопку "тест". При нажатии кнопки тест, микропроцессором считывается номер микросхемы, и подается питание на тестируемую микросхему. Далее контроллер выполняет подпрограммы тестирования микросхемы. В порт микроконтроллера, подключенный к входам тестируемой микросхемы записываются комбинации сигналов, с заранее известными верными состояниями выходных сигналов, и считываются значения выходных сигналов, которые потом сравниваются с эталонными. Микросхема исправна при совпадении сигналов, считанных с выходов тестируемой микросхемы и эталонных сигналов. Тестером выдается сигнал - "Исправен". При не совпадении сигналов на выходе и ожидаемых (эталонных) сигналов выдается сигнал "Не исправен", следовательно, ИМС бракуется. После вывода результата питание с тестируемой микросхемы снимается до поступления следующей команды на тестирование.
Стоит отметить, что для работы на данном тестере, оператор должен уметь задать номер требуемой ИМС в двоичной системе счисления и считать его с индикаторов VD5, VD6 в шестнадцатеричной.
Функциональные обозначение выводов тестируемой ИМС
Порт Р2, биты Р2.0 - Р2.3, подключается к выходным выводам тестируемой МС. Возможные комбинации правильных ответных сигналов сведем в табл.4.2
Таблица 4.2 Ответные сигналы ИМС К155ЛА1
Функциональные обозначение выводов тестируемой ИМС
Биты порта P3 используемые для вывода на элементы индикации описаны в табл.4.3
Сигнал для подачи напряжения на индикатор "Исправен"
Сигнал для подачи напряжения на индикатор "НЕ исправен"
Сигнал для подачи напряжения на индикатор "Готов"
Порт P3 используется для управления подачей питания на испытуемую микросхему через исполнительные элементы (логический элемент с большим выходным током, транзисторный ключ и реле, рис.4.1) с линии P3.0 и отслеживается включение переключателя "тест" через линию Р3.3 - прерывание от внешнего устройства.
Программная часть интерфейса заключается:
По приходу сигнала прерывания определяется тип тестируемой МС, считывается значение, выставленное переключателями S1-S8 на линиях порта P1 (Р1.0 - Р1.7). Дешифрируется тип МС, и управление передается подпрограмме, которая производит тестирование МС данного типа. Подпрограммой тестирования, выставляются тестовые комбинации сигналов в порт P0 (биты Р0.0 - Р0.7), потом производится считывание ответа МС из порта P2 (биты Р2.0 - Р2.1), и оценивается его работоспособность. В зависимости от результата сравнения ожидаемого значения и ответа микросхемы, загорается либо зеленый светодиод - "исправен", либо красный - "не исправен" (порт Р3, биты Р3.4 - Р3.5 соответственно).
Схема управления для подачи питающего напряжения на испытуемую микросхему
1. Однокристальные микроЭВМ. - М.: МИКАП, 1994. - 400 с.: ил.
2. Сташин В.В. и др. Проектирование цифровых устройств на однокристальных микроконтроллерах. /В.В. Сташин, А.В. Урусов, О.Ф. Мологонцева. - М.: Энергоатомиздат, 1990. - 224 с.
3. Справочник по интегральным микросхемам. / Б.В. Тарабрин, С.В. Якубовский, Н.А. Барканов и др.; Под ред. Б.В. Тарабна. - 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Энергия, 1980. - 816 с., ил.
4. Аванесян Г.Р., Левшин В.П. Интегральные микросхемы ТТЛ, ТТЛШ/ - М.: Машиностроение, 1993. - 252 с.
5. Основы микропроцессорной техники. /Курс лекций. Кудинов А.К. - Тольятти: 2004.
Анализ функциональных возможностей процессора. Выбор элементной базы программно-аппаратного комплекса, материала печатной платы, размещение печатных проводников и компонентов. Особенности программирования однокристального микроконтроллера серии AT91. дипломная работа [1,8 M], добавлен 07.03.2011
Изучение современных тенденций в области проектирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов. Анализ алгоритма создания интегральных микросхем в среде Cadence Virtuoso. Реализация логических элементов с использованием NMOS-транзисторов. курсовая работа [1,4 M], добавлен 08.11.2013
Выпуск и применение интегральных микросхем. Конструирование и технология толстопленочных гибридных интегральных микросхем. Коэффициент формы резисторов. Защита интегральных микросхем от механических и других воздействий дестабилизирующих факторов. курсовая работа [234,5 K], добавлен 17.02.2010
Маршрут изготовления биполярных интегральных микросхем. Разработка интегральной микросхемы методом вертикального анизотропного травления с изоляцией диэлектриком и воздушной прослойкой. Комплекс химической обработки "Кубок", устройство и принцип работы. курсовая работа [1,2 M], добавлен 18.04.2016
Микроэлектронные технологии производства больших интегральных микросхем и их логические элементы. Нагрузочные, динамические параметры, помехоустойчивость переходов микросхем с одноступенчатой логикой и их схемотехническая реализация на транзисторах. реферат [985,0 K], добавлен 12.06.2009
Схемотехнические параметры. Конструктивно–технологические данные. Классификация интегральных микросхем и их сравнение. Краткая характеристика полупроводниковых интегральных микросхем. Расчёт полупроводниковых резисторов, общие сведения об изготовлении. курсовая работа [3,8 M], добавлен 13.01.2009
Интегральные микросхемы, сигналы. Такт работы цифрового устройства. Маркировка цифровых микросхем российского производства. Базисы производства цифровых интегральных микросхем. Типы цифровых интегральных микросхем. Схемотехника центрального процессора. презентация [6,0 M], добавлен 24.04.2016
Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д. PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах. Рекомендуем скачать работу .

© 2000 — 2021



Программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем 155 серии курсовая работа. Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника.
Эссе Я Человек Мира
Контрольные Работы 4 Класс Природа
Виды Обеспечения Боевой Подготовки В Подразделении Реферат
Бухгалтерский Учет В России Реферат
Курсовая работа по теме Анализ цен и методов их прогнозирования на мировом рынке
Прочитайте Названия Тем Для Сочинения
Реферат На Тему Руководитель В Системе Управления. Требования К Руководителю-Профессионалу
Реферат: Основы конституционного строя Японии. Скачать бесплатно и без регистрации
Курсовая работа по теме Отбор и прогнозирование способностей в спорте (на примере спортивной гимнастики)
Курсовая Работа На Тему Государственная Власть И Самоуправление В Украине
Реферат по теме Статистический анализ розничного товарооборота, запасов и оборачиваемости товаров
Оттепель В Ссср Реферат
Реферат: Обработка льна. Скачать бесплатно и без регистрации
Налогообложение предпринимательской деятельности
Реферат На Тему Европейские Нормы По Правам Человека И Усилия России По Их Соблюдению
Сочинение по теме Образ Кавказа в творчестве Михаила Юрьевича Лермонтова
Бунин Реферат Жизнь И Творчество
Курсовая работа: Особенности развития ресторанного бизнеса в России
Дипломная работа по теме Просветители второй половины ХIХ века
Курсовая работа: Мировой рынок нефти: проблемы истощения ресурсов и энергетическая безопасность национальных экономик
Российская революция 1905-1907 гг. - История и исторические личности контрольная работа
Пути объединения Российского государства - История и исторические личности реферат
Биография Конфуция - История и исторические личности презентация