Контроль при производстве интегральных микросхем

🛑🛑🛑 ПОДРОБНЕЕ ЖМИТЕ ЗДЕСЬ 👈🏻👈🏻👈🏻

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 13 Ноября 2011 в 21:08, курсовая работа
Описание работы
В этой работе я рассмотрю вопросы контроля при производстве микросхем.
Контроль при производстве цифровых микросхем является очень важным мероприятием.
Это обусловлено тем, что он обеспечивает качество микросхемы в целом.
Цель контрольной работы – изучить контроль при производстве ИС.
Задачи контрольной работы: 1. Изучить особенности контроля.
2. Рассмотреть виды контроля и методы контроля.
При контроле изделий на этапе их изготовления используют измерительные приборы, с помощью которых измеряют основные параметры и характеристики изделий.
Эти приборы называют контрольно-измерительными и в зависимости от области их применения подразделяют на три основные группы: измерители электрических параметров, измерители механических параметров и измерители параметров окружающей среды.
Измерители электрических параметров.
Контроль при производстве ИС.
Требования к качеству ИС, методы контроля, контроль качества и методы испытания продукции, производственные операции, оборудование и средства контроля.
Проверка качества изделий.
Определение механических свойств материалов
Анализ производства интегральных схем.
Использование полупроводниковых кристаллов в микропроцессорных системах.
Характеристика электрических параметров полупроводникового кристалла.
Сущность и назначение контроля при производстве микросхем.
Виды контроля, этапы, стадии.
Методы контроля.
Источники ошибок.
Контроль при сборке микросхем: контроль при подготовке к монтажу, контроль на монтаже и после монтажа.
Порядок проведения контроля при монтаже.
Особенности контроля в условиях эксплуатации.
Способы обнаружения дефектов и их устранение.
Заключение
Для контроля при производстве ИС используют различные методы.
Наиболее распространенными являются следующие:
· контроль по внешнему виду;
· ультразвуковой контроль;
Возможно вы искали - Курсовая работа: Разработка систем автоматизации
· объемный контроль.
Контроль по внешнему виду позволяет определить дефекты, которые не видны невооруженным глазом.
Применяют для определения поверхностных дефектов и для оценки толщины слоя.
На основе изучения требований к интегральным микросхемам и методов контроля их качества можно сделать вывод о том, что интегральные микросхемы можно разделить на две группы: микросхемы, качество которых определяется совокупностью параметров, контролируемых по всему технологическому пути их производства, и микросхемы, которые имеют определенные параметры качества, не контролируемые при изготовлении.
Автор
Розділ
Радиоэлектроника
Формат
Word Doc
Тип документу
Реферат
Продивилось
1411
Скачало
57
Опис
Закачка | Замовити оригінальну роботу
уют и надежность микросхемы.
В отличие от физических дефектов, дефекты, возникающие в процессе производства, называются дефектами изготовления.
Автор работы: Пользователь скрыл имя, 06 Декабря 2014 в 00:32, контрольная работа
Описание работы
Интегральные микросхемы (ИМС) – это полупроводниковые приборы, содержащие, как правило, один или несколько транзисторов, которые, будучи объединенными в блоки и соединенные между собой, образуют функциональные узлы, выполняющие заданную функцию.
Контроль при производстве микросхем, как правило, осуществляется на стадии изготовления или в процессе эксплуатации.
При этом используются различные физические методы контроля (рентгенографические, акустические, оптические, ультразвуковые, магнитные, электрические и др.).
Физические методы используются для определения характеристик, которые могут быть измерены непосредственно.
В настоящее время существуют приборы, позволяющие измерить следующие характеристики:

Контроль при производстве ИС - это совокупность мероприятий, направленных на выявление и устранение дефектов в ИС на стадии изготовления.
Дефекты могут возникать в результате производства ИС или в процессе ее эксплуатации.
Основными источниками дефектов являются: качество исходных материалов; качество сборки ИС; неправильная эксплуатация ИС.
В зависимости от характера дефектов различают дефекты:
1) механические;
2) электрические;
3) технологические;
4) термические;
5) радиационные.
Бесплатное Образование Реферат
Физика Контрольная Работа 9 Класс Годова
Лабораторная Работа По Биологии Дыхание