Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для академического бакалавриата

Серия:

✅ В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения иего основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме, приведены контрольные ы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены студентов 👨‍🎓️ высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.

Также: